AS-300反射率測試儀器是一款高反射率測試儀器，可測量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試等。
　　
　　儀器功能：
　　AS-300反射率測試儀器光譜測量在波長范圍內進行反射度能量的圖譜掃描，并可進行各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等。•數據輸出可進行數據文件和參數文件的存取，測量結果以標準通用的數據文件格式輸出
　　AS-300反射率測試儀器技術參數
　　波長：0.2nm
　　校正線性度：99.8%
　　測量誤差：1%以下
　　單次測量時間：小100ms
　　功耗：200W
　　電源：210~245V，60Hz
　　信號接口：U2.0
　　操作系統：windows
　　波長范圍：200-1100 nm
　　數輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器（U2.0接口），18ms（U1.1）
　　每300ms 一個全掃描入存儲器（串行口）
　　探測器：3648像素的線型硅CCD 陣列 8um×20um
　　光柵：14種光柵，波長從紫外到近紅外
　　積分時間：10um〜65min
　　入射孔徑：寬5，10，25，50，100或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）
　　光纖連接：SMA905接口，與0.22NA 的單股光纖相連
　　各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內
　　電子控制：8個數字GPIO 接口電子快門控制（短10um）
　　焦距：42 mm（輸入），68 mm（輸出）
　　光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關）
　　動態范圍：2×108（系統），1300：1（單個掃描信號）
　　
　　AS-300反射率測試儀器主要特點：
　　•設計的優良的光學系統，的全息閃耀光柵，了儀器的低雜。
　　•雙光束測光系統，配合設計的電路測控系統。使儀器具有高度的穩定性和
　　低的噪聲。
　　全自動的控制系統，的設計理念，儀器具有高性和高穩定性。
　　•可拆卸結構的樣品室設計，易于更換不同的附件。以滿足不同的分析需求。
　　•寬敞型開放式光源室設計，使燈源更換更加方便。
　　•部件均選用器件。了儀器性能的高性。
　　•windows 環境下開發的中英文操作軟件，具有多項技術。提供了豐富的特色的分析功能。