AS-100H分光光度計是一款高快速度的光譜測試儀器，可測量光學元件的透過率，反射率，吸收率，霧度方便快捷準確，操作使用簡單。
　　
　　應用：
　　PV，Low-e 玻璃，真空鍍膜，光學元件，F(xiàn)PD，觸摸屏等
　　
　　測試參數(shù)：
　　透過率，反射率，霧度測試
　　
　　儀器功能：
　　•光譜測量在波長范圍內(nèi)進行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描，并可進行
　　各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導數(shù)運算、譜圖運算等。
　　•數(shù)據(jù)輸出可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取，測量結果以標準通用的
　　數(shù)據(jù)文件格式輸出
　　
　　AS-100H 分光光度計
　　技術參數(shù)
　　波長：0.2nm
　　校正線性度：99.8%
　　測量誤差：1%以下
　　單次測量時間：小100ms
　　功耗：200W
　　電源：210~245V，60Hz
　　信號接口：U2.0
　　操作系統(tǒng)：windows
　　波長范圍：200-1100 nm
　　數(shù)輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器（U2.0接口），18ms（U1.1）
　　每300ms 一個全掃描入存儲器（串行口）
　　探測器：3648像素的線型硅CCD 陣列 8um×20um
　　光柵：14種光柵，波長從紫外到近紅外
　　積分時間：10um〜65min
　　入射孔徑：寬5，10，25，50，100或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）
　　光纖連接：SMA905接口，與0.22NA 的單股光纖相連
　　各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)
　　電子控制：8個數(shù)字GPIO 接口電子快門控制（短10um）
　　焦距：42 mm（輸入），68 mm（輸出）
　　光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關）
　　動態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300：1（單個掃描信號）
　　
　　主要特點：
　　•設計的優(yōu)良的光學系統(tǒng)，的全息閃耀光柵，了儀器的低雜。
　　•雙光束測光系統(tǒng)，配合設計的電路測控系統(tǒng)。使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
　　低的噪聲。
　　•全自動的控制系統(tǒng)，的設計理念，儀器具有高性和高穩(wěn)定性。
　　•可拆卸結構的樣品室設計，易于更換不同的附件。以滿足不同的分析需求。
　　•寬敞型開放式光源室設計，使燈源更換更加方便。
　　•關鍵部件均選用器件。了儀器性能的高性。
　　•windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件，具有多項技術。提供了豐富的特色的分析功能。
　　系統(tǒng)配置：
　　光譜儀：ASspec-UV/VIS高紫外靈敏度光譜儀（200-1100nm）
　　光源：ASLight-HAL鹵鎢燈
　　光纖：FC-UV/VIS 譜段 FC光纖
　　探頭：AS-HAR 測試探頭