：
- 化合成
- 在整個波英卡里球上自動完成化調整（決定性方式）
- 單波段偏振相關損耗測量 w/ 安捷倫 8163A/64A/66A 或 8509C （偏振相關損耗 < 1.0 dB 時，典型測量時間為 2-10 秒）
- 掃描波段偏振相關損耗測量（w/ 安捷倫 8153A 和 8168XX）
- 從屬化的 EDFA 增益測量
- EDFA 表征化位
- 光耦合系數（功率變化量/ SOP）的化靈敏度測量
- 測試設備主要化狀態相關化射束校正（w/ Agilent 8153A）
- 對化模式色散測量的光發布條件化調整
- 采用快速偏振掃描來模擬消偏振信號 [1]
[1] 這款化控制器適合此應用；不過也可使用其它 Agilent 化控制器。
