AFT新一代便攜式電路板在線維修測試儀, 是一種通用的電路板故障檢測儀器,可以無圖紙資料情況下,直接在線測試電路板上集成電路的好壞,測試范圍包含常見的數字邏輯集成電路,集成運算放大器,光耦,通訊接口類集成電路,電壓比較器,驅動器等芯片,AFT便攜式電路板維修測試儀是您開展無圖紙電路板維修的得力助手!

ASA(VI)曲線采集對比測試

一、ASA（VI）測試技術原理

ASA檢測技術是一種不依據電路板工作原理實現對電路板的器件級檢測方法。它實際上是目前常用萬用表電阻檢測法的自然擴展.

萬用表故障檢測法通常是這樣的：先測出好板上元器件(含集成電路)管腳（實際是電路結點）的電阻、然后與故障板上相應元器件(含集成電路)管腳的電阻進行比較，根據兩者差異大小來判斷該結點上有無故障。

萬用表只能檢測在一個電壓（表內電池電壓）下的電阻值，而半導體器件引腳的電阻是隨測試電壓的變化而變化的,具有非線性特征,不同測試電壓下的電阻未相同。

設想有上百塊萬用表，每塊表的電池電壓一樣,對每一個管腳，同時用這些表對照測試一遍，檢查在器件的整個工作電壓區間內的阻是否發生了變化?這種測試方式大大了故障檢出率!

如果電壓為橫坐標，電流為縱坐標，把上百個測試點的數據表示在這個坐標系上，就得到一條電阻曲線——叫做ASA曲線(或VI曲線)。比較好板和壞板相應節點的曲線是否重合，從而判斷該節點上是否有故障——這就是ASA測試技術的基本原理。

二、ASA（VI）測試技術特點

1．不涉及電路原理圖，無需電路處于工作狀態；

2． 測試時不用給電路板(或被測IC)通電；

3． 不涉及被測元器件的功能，無論是數字的、模擬的、數模混合的、功能已知的、未知的等等，均可測試；

4． 它是逐電路結點（按器件管腳）進行測試的，基本上不受元器件封裝的限制。

三、距離感受常見元器件的VI曲線

1．電阻

I=U/R說明在電阻負載上，電壓和電流是線性關系。顯示在VI平面上，就是一條過點的斜線。其斜率大小表示阻值。

2．二管

當v沿正向增加時，電流按指數規律上升；v當向負向增加時，i基本等于負的反向飽和電流。為一常數。二管的VI曲線如下：

3．電容

4．電阻并二管

5．二管并反向二管

6．電阻電容并聯

AFT-201測試儀VI曲線實測效果圖：

四、AFT-201上的ASA技術特色

1、TOOLTIPS技術的應用，即鼠標指向當前測試點后，提示出測試電壓和電流值

2、雙探棒對比測試，曲線在坐標上可以重合或錯位顯示

3、能夠自動匹配靈敏曲線

為了得到較高靈敏度的曲線，一般要調整測試信號的輸出電阻。普通測試儀只能手動選擇曲線的輸出阻，這樣很麻煩，另外當曲線形狀不規則時，往往很難直觀判斷什么樣的曲線靈敏度更高一些；AFT-201測試儀能夠自動調整測試信號的輸出電阻,類似于萬用表的自動電阻檔；

    大量的維修實踐表明，VI曲線的整體走勢越接近45度，反映故障的靈敏度越高； 如同使用指針式萬用表,指針越接近位置，反映故障越靈敏;

4、具有電路板圖像建庫測試平臺

支持按設備、子設備、電路板多級建庫方式,對維修工作的管理!

可以在電路板照片上把任意節點的數據特征采集下來，并儲存到計算機上，為以后對比測試提供便利;支持測試夾建庫方式,大大測試效率!

可實現圖文并茂的板導航、器件導航、管腳導航信息管理，便于積累維修經驗，實現經典共享！

能夠自動生成測試記錄，輕松復現故障檢測現場

支持電路板庫版權管理。

一個電路板庫的質量，對后期的檢測效率、故障檢出率影響很大。但建立一個高質量的電路板庫，通常需要花費大量的精力；為了保護用戶的建庫權益，AFT-201測試儀可以生成一個享有版權的庫文件，方便上市交易，即可以授權（或出售）給其它用戶使用.

5、器件離線建庫測試平臺

    不論是單個元器件的故障檢測，還是來料元器件的質量篩選，AFT-201測試儀所具有的器件離線建庫測試都是當今檢測元器件簡便經濟的檢測手段之一；

AFT-201測試儀內置集成電路VI特性曲線編輯器，能夠快速擴充集成電路VI曲線標準庫，為集成電路的測試或篩選工作提供了方便；

AFT-201測試儀內置40路測試通道, 能夠快速實現對各類集成電路的采集和對比測試; 通道屬性為雙屬性,支持對IC的多端叉掃描測試模式;支持常見集成電路的封裝,如DIP、SOP、SSOP、PLCC、QFP、LQFP等;

支持動態選擇接地管腳;能夠識別和處理不穩定曲線

不穩定曲線是指:由于被測電路本身的原因，導致在同樣的測試條件下，每次測到的曲線相同,這樣就容易對一些好的器件造成誤判;

導致不穩定曲線的原因主要有以下三種：

a．自激導致的不穩定

電路結點的電特征千差萬別，ASA測試將一個正弦波注入電路結點，某個結點正好在這個頻率下出現自激是可能的;自激曲線的現象是大面積散點，并且沒有終的穩定狀態。更換測試信號頻率即可消除。

b．過渡過程導致的不穩定

當結點的充、放電常數相差較大時所導致。這種曲線的現象是當反復測試時，曲線逐步向一個穩定狀態靠近，有一個終的穩定狀態。

c．測試MOS器件時的不穩定

導致這種不穩定的原因是器件中的MOS晶體管隨測試信號上升、下降的開關過程不同。

這種不穩定的現象是曲線上下跳，似乎是兩條穩定曲線輪流出現一樣。測試時只要把器件的電源腳和地腳都接地即可消除。

支持按不同管腳設置不同的測試參數

VI 曲線測試參數是指信號的幅度、輸出阻、頻率等。

并非同一個器件的管腳都適用于同樣的測試參數。舉個典型的例子：集電開路器件的輸出往往耐壓較高，多用于驅動數碼管、繼電器等，而輸入一般是標準電平，所以對于輸出、輸入的測試信號的幅度應該不同，才能檢測的目的。

AFT-201測試儀為一些的集成電路(或測試情況)提供了個性化的解決方案，能夠按不同的管腳設定不同的參數;

二管(DIODE)測量及對比測試

DIODE測試不是指單純測試一個二管，而是借鑒萬用表二管檔測量技術來檢測電路板上元器件的好壞； AFT-201測試儀不能實現單獨檢測一個電路節點的二管導通電壓,而且還能輕松實現雙探棒對比測試;

利用二管擋對比檢測電路板上元器件的故障，是維修中比較常用的檢測手段之一。尤其在測試有容性、感性的節點時，二管擋的測試相對VI測試尤為敏感,此手法是對VI曲線測試的一個很有利的補充;

支持存儲,方便以后對比測試

LCR測試

1、電容測試

在實際應用中，電容器并不是一個純電容，其內部還有等效電阻，如R（等效串聯電阻）、EPR（等效并聯電阻），也就是我們通常說的漏電電阻；

一個實際電容通常可以等效如下電路：

容量達標（在標稱值范圍內）的電解電容，它的R和EPR未合格，所以，實際中會出現測試容量沒問題，而上機卻不能正常使用的情況。在這三個參數中，R和制造工藝密切相關。測試、電容，從容量和EPR上往往觀察不到明顯差異，其差異常體現在R的不同上。

能夠在線測量電容的容量

EPR測試能指定工作電壓

EPR反映電容的漏電大小。EPR越大，漏電越小，所以EPR的值越大越好。EPR隨容量增加略有減小，但通常應在兆歐姆以上。另外，故障電容的漏電大小有時還和測試電壓相關——在小電壓下不漏電，增加測試電壓到程度漏電突然激增，所以，測試EPR的電壓不低于其實際工作電壓。

2、電感測試

3、電阻測試

能夠在線測量電阻阻值

4、小電阻測試

集成電路功能測試/性能參數測試

AFT-201測試儀支持對常見數字邏輯器件、運算放大器、光耦等集成電路的功能測試，對部分器件可以進行性能參數(負載能力等)測試;器件庫可以應客戶的要求進行擴充；