型號：Planum-3000 用途：用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/ 反射率、透過率測量，偏振光測量，膜性測量。 全自動光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。 操作軟件界面 全自動光學元件光譜分析儀-技術參數： 類別 I型 II型 III型 探測器 Sony ILX511 x線形CCD 陣列 Sony ILX511 x線形CCD 陣列 Hamamatsu S7031背照式2D-CCD 檢測范圍 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm 波長分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm 信噪比（全信號） 250：1 250：1 1000：1 相對檢測誤差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm) 操作方式 手動 電動 電動 角度分辨率 0.1 º <0.0002º <0.0002º 重復定位： - <0.005 º <0.005 º 旋轉速度: - 25 º/s 25 º/s 透射/反射測量角 >8º ， <80 º,可擴展到5º 單次測量時間 <