藍寶石膜厚測試儀
■利用反射干涉的原理進行無損測量
■可測量薄膜厚度及光學常數,測量達到埃級的分辯率
■操作簡單,界面友好,是 目前市場上具性價比的膜厚測量儀設備
■設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm 到1700nm可選
■并有手動及自動機型可選,應付不同 的研發或生產要求
| √GaN厚度 | √光阻膠厚度 |
| √SiO2厚度 | √ 穿透率 |
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北京羲和陽光科技發展有限公司
免企業未認證證營業執照未上傳
經營模式:工廠
所在地:北京
主營產品:硅料檢測分選儀;硅片電阻率測試儀;薄膜方塊電阻率測試儀;硅芯/硅棒電阻率測試儀;少子壽命測試儀;
藍寶石膜厚測試儀
■利用反射干涉的原理進行無損測量
■可測量薄膜厚度及光學常數,測量達到埃級的分辯率
■操作簡單,界面友好,是 目前市場上具性價比的膜厚測量儀設備
■設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm 到1700nm可選
■并有手動及自動機型可選,應付不同 的研發或生產要求
| √GaN厚度 | √光阻膠厚度 |
| √SiO2厚度 | √ 穿透率 |