產品品牌：

半導體分立器件測試系統；

產品型號：

BC3193

BC3193 半導體分立器件測試系統 系統用途 BC3193半導體分立器件測試系統是半導體參數測試的專用設備, 用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試 系統特點 ◆ PC機為系統的主控機 ◆  菜單式測試程序編輯軟件操作簡便 ◆  預先連接測試自動識別NPN/PNP ◆  0～±2000V程控高壓源 ◆  高達±1000A程控高流源 (外接高流臺可擴充到±1000A) ◆  測試漏流小分辨率達6.1pA ◆  四線開爾文連接保證加載測量的準確 ◆  通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家   計量標準對系統進行校驗 ◆  Prober接口、Handler接口可選（16Bin） ◆  可為用戶提供豐富的測試適配器   測試對象 二極管/穩壓管/恒流二極管/整流橋/瞬態抑制管：  BVR、IR、VF、VZ、RZ 三極管：  BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT 可控硅：    BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、      IH、IL、VGT、VON 場效應管：      BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP IGBT：         BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off) 達林頓矩陣：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO 單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2 光敏二、三極管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE 光 耦（輸出類型：二極管、三極管、可控硅、MOSFET）： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加時間測量選件Tr、Tf、Toff、Ton） 固態繼電器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von 硬件基本配置 主控計算機一臺：Windows操作系統、PCI插槽1個以上； 計算機PCI接口板(CPUINT)一塊；系統接口板(SYSINT)一塊(含GPIB接口)； 數據采集板(VM)一塊； 40A/30V程控電流電壓源(VIS)二塊； ±2000V程控電壓源(HVS)一塊； 電流/電壓轉換板(IVC）一塊； 電源控制板(PWC)一塊； 測試臺矩陣板(STATION)一塊； 自檢模板2個； 測試適配器4個（二極管、TO-92、TO-3、TO-220）