- 品牌/商標：上海精科分析儀器廠
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：上海
上海精科UV754N紫外可見分光光度計是一種能適應現代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環境保護、食品工業、石油化工、生物化學、大專院校及質量控制等部門。
技術參數：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
上海精科UV754N紫外可見分光光度計如果您對本產品價格、圖片、參數、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
技術參數：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
上海精科UV754N紫外可見分光光度計如果您對本產品價格、圖片、參數、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
