- 品牌/商標：上海精科分析儀器廠
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：上海
上海精科UV765紫外可見分光光度計可以滿足日常分析到科學研究等廣泛的應用需求。儀器采用先進合理的光路系統、低噪聲的電路設計，具有出色的可靠性和穩定性。
技術參數：
● 波長范圍：190nm～1100nm
● 波長允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)
● 透射比允許誤差：±0.3%（τ）
● 漂移：≤0.001A/h
● 透射比重復性：0.15%（T）
● 基線平直度：±0.002A
● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)
● 掃描速度；快、中、慢
上海精科UV765紫外可見分光光度計如果您對本產品價格、圖片、參數、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
技術參數：
● 波長范圍：190nm～1100nm
● 波長允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)
● 透射比允許誤差：±0.3%（τ）
● 漂移：≤0.001A/h
● 透射比重復性：0.15%（T）
● 基線平直度：±0.002A
● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)
● 掃描速度；快、中、慢
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