| 品牌 | 韓國雷納 | 型號 | 聲波，渦流聯(lián)合檢測機(jī)（型號：RAY-34000EU） |
| 測量范圍 | 32mm | 測量 | 0.1×0.1×2mm |
| 尺寸 | 700*600（mm） | 重量 | 600（kg） |
聲波，渦流聯(lián)合檢測機(jī)（型號：RAY-34000EU）
檢測管道生產(chǎn)線種生產(chǎn)的管道焊接部的內(nèi)部的缺陷，即龜裂及破損等缺陷。 基本構(gòu)成：聲波板，聲波探頭，渦流板，切線探頭，機(jī)械設(shè)備，水箱，使用軟件（存儲，畫面導(dǎo)出，打印功能，照會及導(dǎo)出） 適用產(chǎn)品:檢測管道生產(chǎn)線生產(chǎn)的生產(chǎn)管道等焊接部位的表面,內(nèi)壁缺陷。 種類 區(qū)分 使用溫度 0~40℃ 增幅度調(diào)節(jié) 0~80dB 擴(kuò)張頻率 16Ch 管大小 協(xié)議事項 小檢測速度 與管道生產(chǎn)線速度對應(yīng) 小缺陷大小 A） 表面缺陷檢測：1mm(W)×管厚度的20%（D）×10mm(L) B）內(nèi)壁缺陷檢測：1mm(W)×管厚度的30%（D）×10mm(L) 
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NDT （Non-destructive testing），就是利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對象使用性能的前提下，檢測被檢對象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對象所處技術(shù)狀態(tài)（如合格與否、剩余壽命等）的技術(shù)手段的總稱。從事檢測的人員需要接受的培訓(xùn)，獲得資質(zhì)才能持證上崗。各個、區(qū)域、機(jī)構(gòu)針對檢測培訓(xùn)資質(zhì)均有不同的要求，受訓(xùn)前應(yīng)該了解清楚，選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)、機(jī)構(gòu)進(jìn)行相關(guān)的培訓(xùn)與考核。
常用的檢測方法：射線照相檢驗(RT)、聲檢測(UT)、磁粉檢測(MT)和液體滲透檢測(PT) 四種。其他檢測方法：渦流檢測(ET)、聲發(fā)射檢測（ET）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗（LT）、交流場測量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗（MFL)、遠(yuǎn)場測試檢測方法（RFT)等。
一、常規(guī)檢測方法
目視檢測 Visual Testing （縮寫 VT）；
聲檢測 Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；
射線檢測 Radiographic Testing（縮寫 RT）；
磁粉檢測 Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；
滲透檢測 Penetrant Testing （縮寫 PT）。
二、規(guī)檢測方法
聲發(fā)射 Acoustic Emission(縮寫 AE)；
渦流檢測Eddy current Testing （縮寫 ET）
泄漏檢測 Leak Testing（縮寫 LT）；
衍射波時差法聲檢測技術(shù)Time of Flight Diffraction (縮寫 ToFD)；
導(dǎo)波檢測Guided Wave Testing；
二、規(guī)檢測方法
聲發(fā)射 Acoustic Emission(縮寫 AE)；
渦流檢測Eddy current Testing （縮寫 ET）
泄漏檢測 Leak Testing（縮寫 LT）；
衍射波時差法聲檢測技術(shù)Time of Flight Diffraction (縮寫 ToFD)；
導(dǎo)波檢測Guided Wave Testing；
韓國RAYNAR科技株式會社公司簡介
我公司以20多年的非破壞檢測領(lǐng)域研究開發(fā)和現(xiàn)場經(jīng)驗為基礎(chǔ)，開發(fā)非破壞檢測設(shè)備提供給各企業(yè)。非破壞檢測設(shè)備根據(jù)新材料部件的開發(fā)，需要持續(xù)研究開發(fā)新檢測技術(shù)，是一個要求和挑戰(zhàn)的領(lǐng)域。我公司已、挑戰(zhàn)的精開發(fā)工業(yè)現(xiàn)場需要的技術(shù)，為客戶提供服務(wù)。目前公司開發(fā)提供鋼鐵公司使用的壓延卷檢測設(shè)備、汽車馬達(dá)快等的螺絲扣檢測設(shè)備、銅、鋁、不銹鋼等各種軟管檢測設(shè)備。不是渦流技術(shù)，還開發(fā)應(yīng)用聲波技術(shù)的聲波-渦流合檢測設(shè)備為工業(yè)現(xiàn)場提供。RAYNAR培育了人才，開發(fā)尋找各部件缺點的傳感技術(shù)應(yīng)用設(shè)備，幫助廣大客戶實現(xiàn)了zero defect的夢想。發(fā)展成為開發(fā)非破壞檢測技術(shù)竭盡、為的和幸福發(fā)展的世界非破壞檢測設(shè)備制造公司。
如果貴公司需要我們公司的產(chǎn)品請直接聯(lián)系我們,謝謝!
此致
敬禮
負(fù)責(zé)人:張學(xué)良/馮寧
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