型號/規格：ZQ-358#$KSUN%^59#$制造商%^136#$全新%^60#$中國臺灣

產品描述：蒸汽老化試驗箱 濕氣老化試驗機電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗。

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型號/規格：ZQ-358#$KSUN%^59#$制造商%^136#$全新%^60#$中國臺灣

產品描述：蒸汽老化試驗箱 濕氣老化試驗機電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗。

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型號/規格：SK-VK358#$思科%^59#$制造商%^136#$全新%^640#$SK-VK3%^60#$東莞

產品描述：用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、...

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型號/規格：SK-VK358#$思科%^59#$制造商%^136#$全新%^640#$SK-VK3%^60#$東莞

產品描述：用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、...

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型號/規格：HTO-23

產品描述：全不銹鋼蒸汽老化試驗箱 蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業、電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老...

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型號/規格：HTO-23

產品描述：全不銹鋼蒸汽老化試驗箱 蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業、電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老...

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型號/規格：GT-ZQ-34

產品描述：主要技術參數： ·型號：GT-ZQ-34 ·內部尺寸：50×40×17cm ·外部尺寸：60×50×42cm

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型號/規格：GT-ZQ-34

產品描述：主要技術參數： ·型號：GT-ZQ-34 ·內部尺寸：50×40×17cm ·外部尺寸：60×50×42cm

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型號/規格：AAS系列

產品描述：在人造板及飾面人造板加速老化性能測定試驗中，進行熱水浸泡和蒸汽噴蒸的處理；或在其他需要蒸汽噴蒸和熱水浸煮試驗中，作為水煮和噴蒸之設備。

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型號/規格：AAS系列

產品描述：在人造板及飾面人造板加速老化性能測定試驗中，進行熱水浸泡和蒸汽噴蒸的處理；或在其他需要蒸汽噴蒸和熱水浸煮試驗中，作為水煮和噴蒸之設備。

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產品描述：蒸氣老化試驗箱 [產品簡介] 　　本產品適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業、電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老...

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產品描述：蒸氣老化試驗箱 [產品簡介] 　　本產品適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業、電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老...

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產品描述：鹽水噴霧試驗乃針對各種材質之表面經電鍍、陽處理、噴涂、銹油腐蝕處理后，測試其製品之耐蝕 性。適用國際標準：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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產品描述：鹽水噴霧試驗乃針對各種材質之表面經電鍍、陽處理、噴涂、銹油腐蝕處理后，測試其製品之耐蝕 性。適用國際標準：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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產品描述：一、本機概述：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；...

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產品描述：一、本機概述：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；...

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型號/規格：DZ-8512

產品描述：測試盤尺寸：10㎝×4㎝×26㎝(W×H×D) 外箱尺寸：61㎝×54㎝×34㎝(W×H×D)

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型號/規格：DZ-8512

產品描述：測試盤尺寸：10㎝×4㎝×26㎝(W×H×D) 外箱尺寸：61㎝×54㎝×34㎝(W×H×D)

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產品描述：鹽水噴霧試驗乃針對各種材質之表面經電鍍、陽處理、噴涂、銹油腐蝕處理后，測試其製品之耐蝕 性。適用國際標準：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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產品描述：鹽水噴霧試驗乃針對各種材質之表面經電鍍、陽處理、噴涂、銹油腐蝕處理后，測試其製品之耐蝕 性。適用國際標準：RELATEU STANDARDS CNS 3627、3885、4159、7...

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