EM5030/EM5030LF 與 EM5030E 系列探頭組技術特點與應用解析

在電磁兼容（EMC）干擾定位測試中，探頭組的專業性直接決定了干擾源排查的精準度，EM5030/EM5030LF 與 EM5030E 系列探頭組，針對磁場與電場干擾的不同測試需求，構建了精細化的探測解決方案。其中，EM5030/EM5030LF 系列探頭組以磁場探測為核心，整套包含 7 個專門用于測試磁場（H）的探頭，且采用了高效的電場干擾（E）屏蔽設計 —— 這一設計至關重要，能有效隔絕測試環境中電場信號的干擾，確保探頭僅精準捕捉磁場干擾，避免電場雜波混入導致的測量偏差，為后續干擾源定位提供純粹的磁場數據支撐，尤其適用于電磁兼容整改階段，幫助工程師快速鎖定設備內部的磁場干擾源頭。在頻率覆蓋與探頭形態上，該系列進行了科學細分。EM5030 探頭的頻率范圍覆蓋 30MHz-3GHz，對應中高頻段的磁場干擾探測，比如無線通信模塊、高頻振蕩器等元件產生的磁場干擾；同時配備 4 種不同形狀的探頭，可適配不同測試場景 —— 例如尖細探頭能深入電路板密集元件間隙，扁平探頭則適合覆蓋較大面積的電路區域，滿足多樣化的探測需求。EM5030LF 探頭則聚焦低頻段磁場干擾，頻率范圍為 9kHz-50MHz，針對電源模塊、電機驅動電路等低頻元件產生的磁場干擾，搭配 3 種專用探頭形狀，實現對低頻磁場信號的精準捕捉，二者互補覆蓋 9kHz-3GHz 的全頻段磁場探測，讓不同頻率范圍的磁場干擾都無所遁形。與之對應，EM5030E 系列探頭組專注于電場（E）干擾探測，整套包含 2 個專門測試電場的探頭，覆蓋頻率范圍同樣達到 30MHz-3GHz，可高效查找設備內部的電場干擾源，如高速信號線路、未良好屏蔽的集成電路等產生的電場輻射。為確保測試精度，該系列探頭除核心探測部分外，其余結構均采用屏蔽設計，能大減少外部磁場及其他雜波對電場信號探測的干擾，進一步提升電場干擾測量的準確性。在使用便捷性與系統兼容性上，所有系列探頭均通過 50Ω 標準阻抗電纜設計，可直接與頻譜儀或示波器連接，無需額外適配轉換配件，大幅簡化了測試設備的搭建流程，降低了操作門檻。在實際應用中，當產品的輻射或傳導干擾超出標準限值時，工程師可借助這些近場探頭，精準定位產生特定頻率干擾的元件或電路 —— 既能檢測模塊之間的干擾耦合通道，判斷信號是否通過線纜、空間等路徑相互干擾，也能評估系統內信號切換速率、RF 電壓等關鍵參數，為干擾整改提供數據依據。此外，針對干擾信號較弱、難以直接捕捉的場景，探頭還可與本公司 EM5020A（20dB 增益）或 EM5020B（30dB 增益）前置放大器搭配使用。通過放大器對微弱干擾信號的增強作用，能顯著提高整個測試系統的靈敏度，讓原本 “隱匿” 的微弱干擾信號清晰呈現，進一步拓寬了探頭組在低干擾強度場景下的應用能力，為電磁兼容測試與整改提供更全面的技術支持。高頻磁場探頭高頻磁場探頭高頻磁場探頭高頻磁場探頭