詢價
磁性開關綜合綜合參數測試儀 型號:ZJ24-ZAT-100庫號：D410319
磁性開關綜合綜合參數測試儀 型號:ZJ24-ZAT-100庫號：D410319
概述
A、簡介:
該儀器采用主頻 168Mhz 的高速 MCU 負責控制檢測，配合 7.0 英寸(1060*570)可觸摸
IPS 顯示屏，UI 顯示清晰美觀，操作邏輯直觀友好，方便用戶快速上手儀器的使用。測試數
據一目了然，特殊數據高亮顯示。
該儀器可檢測磁性開關（干簧管）的接觸電阻，吸合 AT，釋放 AT，AT 差值，吸合時
間，吸合回跳時間，釋放時間，釋放回跳時間等參數；該儀器具有大容量的存儲器，大可
以存儲 249 組參數數據。方便用戶使用。
B、使用環境要求:
電源供電：單相 220VAC；功耗：<500W
環境溫度：10 - 40 oC；相對濕度：<80%
機箱外形尺寸：300mmX160mmX280mm
二、技術指標
1.環境溫度:
測量范圍：2-51oC， 分辨率 0.01 oC， 精度±1%±0.2 oC
2.線圈電阻:
1-500Ω檔: 分辨率 0.1Ω， 精度±1%±0.2Ω
500-2KΩ檔: 分辨率 0.5Ω， 精度±1%±1Ω
2KΩ-20KΩ檔: 分辨率 5Ω， 精度±1%±5Ω
3.接觸電阻:
測試條件：10mA/6V；100mA/6V；1A/6V；
測試范圍：0-500mΩ，分辨率 0.1mΩ，精度±1%±0.5mΩ
4.吸合 AT/釋放 AT:
0-100AT，分辨率 0.01AT，精度±1%
5.吸合/釋放時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
6.吸合/釋放回跳時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
7.同步時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
8.測試方式:約 1.8s
磁性開關綜合綜合參數測試儀 型號:ZJ24-ZAT-100庫號：D410319
概述
A、簡介:
該儀器采用主頻 168Mhz 的高速 MCU 負責控制檢測，配合 7.0 英寸(1060*570)可觸摸
IPS 顯示屏，UI 顯示清晰美觀，操作邏輯直觀友好，方便用戶快速上手儀器的使用。測試數
據一目了然，特殊數據高亮顯示。
該儀器可檢測磁性開關（干簧管）的接觸電阻，吸合 AT，釋放 AT，AT 差值，吸合時
間，吸合回跳時間，釋放時間，釋放回跳時間等參數；該儀器具有大容量的存儲器，大可
以存儲 249 組參數數據。方便用戶使用。
B、使用環境要求:
電源供電：單相 220VAC；功耗：<500W
環境溫度：10 - 40 oC；相對濕度：<80%
機箱外形尺寸：300mmX160mmX280mm
二、技術指標
1.環境溫度:
測量范圍：2-51oC， 分辨率 0.01 oC， 精度±1%±0.2 oC
2.線圈電阻:
1-500Ω檔: 分辨率 0.1Ω， 精度±1%±0.2Ω
500-2KΩ檔: 分辨率 0.5Ω， 精度±1%±1Ω
2KΩ-20KΩ檔: 分辨率 5Ω， 精度±1%±5Ω
3.接觸電阻:
測試條件：10mA/6V；100mA/6V；1A/6V；
測試范圍：0-500mΩ，分辨率 0.1mΩ，精度±1%±0.5mΩ
4.吸合 AT/釋放 AT:
0-100AT，分辨率 0.01AT，精度±1%
5.吸合/釋放時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
6.吸合/釋放回跳時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
7.同步時間：
測試范圍：0-65ms ，分辨率 0.01ms ，精度±0.1ms
8.測試方式:約 1.8s
