詢(xún)價(jià)
X射線(xiàn)金屬鍍層測(cè)厚儀是天瑞儀器的優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品，打破了國(guó)外壟斷的局面，主要用于金屬鍍層——鍍金，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等厚度的檢測(cè)，廣泛應(yīng)用在電器電器、五金工具、汽車(chē)配件、高壓開(kāi)關(guān)、制冷設(shè)備、精密五金、電鍍加工、衛(wèi)浴、PCB線(xiàn)路板等企業(yè)，thick8000是天瑞儀器新款的X射線(xiàn)金屬鍍層測(cè)厚儀，三維移動(dòng)平臺(tái)和高清射線(xiàn)系統(tǒng)，使整個(gè)測(cè)試更加、清晰。
性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
卓越的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
先進(jìn)的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣；
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦；
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)；
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示結(jié)果。
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位；
技術(shù)指標(biāo)
SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位：小于0.1um
同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
先進(jìn)的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm
工作原理
若一個(gè)電子由軌道游離，則其他能階的電子會(huì)自然的跳至他的位置，以達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)，此種不同能階轉(zhuǎn)換的過(guò)程可釋放出能量，即X-射線(xiàn)。因?yàn)楦髟氐拿恳粋€(gè)原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
下述可描述X-射線(xiàn)熒光的特性：若產(chǎn)生X-射線(xiàn)熒光是由于轉(zhuǎn)移一個(gè)電子進(jìn)入K 軌道，一個(gè)K軌道上的電子已事先被游離，另一個(gè)電子即代替他的地位，此稱(chēng)之為K 輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區(qū)別的。若X-射線(xiàn)熒光是一個(gè)電子跳入L的空軌域，此種輻射稱(chēng)為L(zhǎng)輻射。同樣的L 輻射可劃分為L(zhǎng)α 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點(diǎn)Lα及Lβ是很容易區(qū)分的。
原子的特性由原子序來(lái)決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線(xiàn)能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會(huì)造成不同的能量差。
特定的X-射線(xiàn)可由比例計(jì)數(shù)器來(lái)偵測(cè)。當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線(xiàn)可由其后的鑒別電路記錄。
使用X-射線(xiàn)熒光原理測(cè)厚，將被測(cè)物置于儀器中，使待測(cè)部位受到X-射線(xiàn)的照射。此時(shí)，特定X-射線(xiàn)將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測(cè)系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號(hào)，且由儀器記錄下來(lái)，測(cè)量X-射線(xiàn)的強(qiáng)度可得到鍍膜的厚度。
