點針工作站手動分析探針臺失效分析半導體測試元器件電性能測試
在集成電路的研發、生產制造、實效分析過程中，經常要量測內部的電參數，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現微小位置的電學參數測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺近10年歷史，銷售實績800多臺，并且每年銷量行業銷量。行業客戶有：友達光電、華映光電、奇美光電、群創光電、飛兆半導體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復旦大學、上海交通大學、西安電子科技大學、溫州大學、福州大學、廈門大學等等……
點針工作站手動分析探針臺失效分析半導體測試元器件電性能測試
型號： PW-400
規格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數2～4顆
適用領域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學單位等
點針工作站手動分析探針臺失效分析半導體測試元器件電性能測試
型號： PW-600/PW-800
規格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調升降8mm，微調升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產品
RF高頻探針臺
東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten
