- 企業類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
- 分析范圍:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
- 工作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩壓電源)
- 測量時間:40秒(可根據實際情況調整)
- 探測器分辨率:(160±5)eV
- 光管高壓:5-50kV
- 管流:50μA-1000μA
- 準直器:配置不同直徑準直孔,最小孔徑φ0.2mm
產品詳細介紹Thick 8000高全自動金鎳厚檢測儀
儀器介紹Thick 8000金鎳厚檢測儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型高端儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick 8000高全自動膜厚儀儀器配置 1 硬件:主機壹臺,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半導體探測器(3) 放大電路 (4) 高樣品移動平臺(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(7) 上照、開放式樣品腔 (8)雙激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03 計算機、打印機各一臺計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)4 資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。 Thick 8000高全自動金鎳厚檢測儀膜厚儀參數規格1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U);
2.同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層;
金鎳厚檢測儀4.鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同);
5.SDD探測器:分辨率低至135eV;
6.先進的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm;
7.樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭;
8.準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合;
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重復定位:小于0.1um;
性能特點1.精密的三維移動平臺;
2.卓越的樣品觀測系統;
3.先進的圖像識別;
4.輕松實現深槽樣品的檢測;
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換;
6.雙重保護措施,實現無縫防撞;
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試。
安裝要求:1 環境溫度要求:15℃-30℃2 環境相對濕度:<70%3 工作電源:交流220±5V4 周圍不能有強電磁干擾。
產品簡介

采用下照式結構,儀器操作簡單,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求。...
產品詳細介紹
應用領域
鐵基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
技術參數
1 金鎳厚檢測儀分析元素范圍:S-U
2 可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.02μm
4 多次測量重復性可達0.05μm
5 定位:0.5mm
5 測量時間:30s-300s
6 計數率:1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個范圍內,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。
廠家介紹
天瑞儀器股份有限公司是生產光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售一體型企業。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創業板塊上市。股票代碼為300165。

分析儀器行業的家也是目前一家上市公司,公司現有員工1100人,包括研發部、技術部、生產部、國內業務部及海外市場部、品管部、計劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財務部、及董秘處和行政部等部門,且公司規模日益壯大。








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