- 品牌/商標(biāo)：臺(tái)灣Chroma
- 企業(yè)類(lèi)型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺(tái)灣
硬體設(shè)備
半自動(dòng) LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備
漏電流測(cè)試模組
電源量測(cè)單元
光學(xué)測(cè)試模組
ESD 測(cè)試模組 (選配)
Chroma 58173 是一組全新獨(dú)特的量測(cè) LED 全光 通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè) 試生產(chǎn)線中，常見(jiàn)使用部份光通量來(lái)取代全光通 量之量測(cè)方式 (見(jiàn)圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn)，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測(cè) 試時(shí)間較長(zhǎng)等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問(wèn)題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高度之 LED 全光通量之量測(cè)方式(見(jiàn)圖2)。 這種創(chuàng)新的量測(cè) 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測(cè)度。
在光學(xué)量測(cè)方面，主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可 透過(guò)致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173 搭載一個(gè)6吋 的晶片載盤(pán)與校正基座，提供使用者一個(gè)完整 的校正與測(cè)試平臺(tái)；在電性測(cè)試方面，58173 則 具備完整之電源量測(cè)單元，無(wú)論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測(cè)試需求。
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Model | Description | 詢(xún)價(jià) |
58173 | LED 全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) |
