影響測量儀VMS-1510/VMS-2010的詳細信息

二次元影響測量儀


產品說明:
精密件零顯微測量系統
 


         精密件零顯微測量系統SK2010是一套集合了數位科技成果與計算機屏幕測量技術的數碼投影測量系統，它應用了獨有的雙向同步倍率校正技術（）, 采用獨特同軸光、底光、側光設計和具有投影與正像兩種成像方式,可以測量在75*75mm范圍內的零件局部（15*15mm）.測量為±2um,調節倍率在20x－80x之間,解析度0.001mm.能夠有效的解決了器件的誤差和屏幕的局限和滿足各種測量倍率的要求.產品已經達到業內科技的水平;是針對精密零件制造業日益精湛的加工工藝所帶來的計量需求開發而成.


性能：
 



◆  獨有的雙向倍率同步技術 

◆     自動掃描收集數據

◆     20x－80x調節倍率可滿足各種測量對倍率要求

◆     具有投影和正像兩種成像方式

◆     具有消場曲和消畸變的成像特質

◆     獨特同軸光、底光、側光設計

◆      采用sony原廠CCD攝像頭

◆      ＳＫＤ－ＣＬ２軟件系統可進行各種圖像測量和處理

◆     支持多種格式,可進行圖像存儲、打印、編輯、發送、格式化等.

 

技術參數：
 


型號
 2010
 
顯示方式
 電腦 監視器 液晶屏 電視機
 
工作距離
 90mm－140mm
 
測量范圍
 0.01mm－15mm
 
工作倍率
 20x－80x
 
解析度
 0.001mm
 
照明光源
 同軸光、底光、側光
 
圖像器件
 Sony原廠CCD攝像頭
 
圖像輸出
 Av信號或USB接口